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laimu AN2060钳形电力功率分析仪

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梅特勒分析天平XP6U超微量

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瑞士梅特勒-托利多超越系列XP/XS超微量天平/微量天平/电子天平

梅特勒-托利多XP2U/XP6/XS3DU(超)微量天平在处理昂贵、易分解或者有毒物质时,尽可能减少样品使用量意味着可以大大降低成本。而XP26/XP56微量天平特别适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免样品转移过程中的误差和浪费。

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梅特勒XP56 微量天平

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BM系列超微量分析天平

BM系列自动微量分析天平,是日本AND公司在2011年新在国际市场上推出的精度达1μg,有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。22g X 1μg、250gX0.01mg、520gX0.1mg。

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石英晶体微天平

QCM-D技术的核心是石英晶体传感器,它由石英晶体夹在两片电极中间形成三明治结构。在电极两端加入一个交流电压,在传感器的共振频率处引发一个小的剪切振动,当交流电压关闭后,振动呈指数衰减,这个衰减被记录下来,得到共振频率(f)和耗散因子(D)两个参数。

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山西岛津AUW120D半微量分析天平

率先采用铝整体型质量传感器“UniBloc”的分析天平。 AUW-D/AUW/AUX/AUY系列彻底追求可靠性、快速响应性和使用简便三要素。由于装备“UniBloc”,实现惊人的可靠性、响应性、使用便利性。

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ESJ182-4十万分之一天平

后置式电磁力传感器,天平内装校准砝码,便于随时校准,具有超载/欠载报警、全量程去皮、累加/累减、底钩称量等功能,可满足各种实验室质量分析之需求。可选配RS232接口

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